igbt静态参数测试系统简介

普赛斯igbt测试设备+igbt测试仪，集多种测量和分析功能一体，可以---测量不同封装类型功率器件如mosfet、bjt、igbt以及sic、gan第三代半导体等的静态参数，具有高电压和大电流特性、μω级j确测量、纳安级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容，如输入电容、输出电容 、反向传输电容等。

普赛斯功率半导体测试平台igbt测试设备配置有多种测量单元模块，模块化的设计测试方法 灵活，方便用户添加或升级测量模块，适应测量功率器件不断变化的需求。详询一八一四零六六三四七六；


测试系统组成

普赛斯pmst功率器件静态参数测试系统，主要包括测试主机、测试线、测试夹具、电脑、上位机软件，以及相关通讯、测试配件等构成。整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机，内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合---上位机测试软件，可根据测试项目需要，设置不同的电压、电流等参数，以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出，并可生成i-v以及c-v特性曲线。此外，测试主机可与探针台搭配使用，实现晶圆级芯片测试；也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。

测试主机内部采用的电压、电流测量单元，均采用多量程设计，测试精度为0.1%。其中，栅极-发射极，---支持30v@10a脉冲电流输出与测试，可测试低至皮安级漏电流；集电极-发射极，---支持6000a高速脉冲电流，典型上升时间为15μs，且具备电压高速同步采样功能；---支持3500v电压输出，且自带漏电流测量功能。电容特性测试，包括输入电容，输出电容，以及反向传输电容测试，频率---支持1mhz。


系统特点

高电压：支持---3.5kv高电压测试z大扩展至10kv；

大电流：支持---6ka大电流测试多模块并联；

---：支持uω级导通电阻、纳安级漏电流测试；

丰富模板：内置丰富的测试模板，方便用户快速配置测试参数；

配置导出：支持一键导出参数配置及一键启动测试功能；

数据预览及导出：支持图形界面以及表格展示测试结果，亦可一键导出；

模块化设计：内部采用模块化结构设计，可自由配置，方便维护；

可拓展：支持拓展温控功能，方便监控系统运行温度；

可定制开发：可根据用户测试场景定制化开发；

测试项目

集电极-发射极电压vces，集电极-发射极击穿电压vbrces、集电极-发射极饱和电压vcesat

集电极截止电流ices、栅极漏电流iges

栅极-发射极电压vges、栅极-发射极阈值电压vgeth

输入电容、输出电容、反向传输电容

续流二极管压降vf

i-v特性曲线扫描，c-v特性曲线扫描等


测试夹具

针对市面上不同封装类型的硅基功率半导体，igbt、sic、mos、gan等产品，普赛斯提供

整套测试夹具解决方案，可用于t0单管，半桥模组等产品的测试。


选择普赛斯仪表的理由

武汉普赛斯是国内早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用；

普赛斯仪表特色：高电流、高电压测试，3500v电压下可测量皮安级漏电流，1000a脉冲电流源15us的超快上升沿。功率半导体测试平台igbt测试设备详询一八一四零六六三四七六；